會出現不明原因閃絡主要發生于運行中的棒形懸式復合絕緣子。 

這種絕緣子的(de)用量目(mu)前(qian)呈上升(sheng)趨(qu)勢,特別在(zai)2001年2月(yue)全(quan)國大面積污閃事故(gu)發(fa)生(sheng)后(hou)。

對運行中閃絡的棒形懸式復合絕緣子,進行(xing)數次工(gong)頻閃絡或(huo)耐受試(shi)驗,基(ji)本未發現異常現象,換句(ju)話(hua)說,被試(shi)絕緣(yuan)子的電氣性(xing)能與新絕緣(yuan)子基(ji)本相(xiang)同(tong)。 

初步分析,原因有三: 

①試(shi)驗時(shi)(shi)絕緣(yuan)(yuan)子(zi)的(de)狀況與運行(xing)閃絡(luo)(luo)時(shi)(shi)已(yi)不相同(tong),從(cong)“發生閃絡(luo)(luo)→尋找判斷(duan)→更換絕緣(yuan)(yuan)子(zi)→運到試(shi)驗室→進行(xing)試(shi)驗”是一(yi)個(ge)(ge)過程,需要一(yi)段時(shi)(shi)間(半個(ge)(ge)月或更長),絕緣(yuan)(yuan)子(zi)的(de)性能已(yi)基(ji)本(ben)恢復(fu); 

②試驗室的氣(qi)象條件與運行(xing)閃絡時(shi)不同,有時(shi)差(cha)異還很大(da),如運行(xing)閃絡時(shi)有霧: 

③概率因素在起作用,客觀地講,不(bu)明原因閃(shan)絡(luo)實際上是有原因的(de),只不(bu)過未查清而已。